PXS2040型砂体式显微镜

1、技术要求：

用于观察型砂颗粒的形状，表面状况及砂样的烧结情况。要求成像清晰而平稳，视场宽阔，操作方便。

1.1放大倍数：20X、40X;

1.2工作距离：78mm;

1.3两目镜中心距(可调)：55～75mm;

1.4调焦范围：65mm

1.5被观察物面超大高度：45mm

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